| 专利名称 | 一种高精度干涉SAR系统性能分析方法 | 申请号 | CN201310048793.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103135098A | 公开（授权）日 | 2013.06.05 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明（设计）人 | 向茂生;丁赤飚;梁兴东;汪丙南;韦立登 | 主分类号 | G01S7/40(2006.01)I | IPC主分类号 | G01S7/40(2006.01)I | 专利有效期 | 一种高精度干涉SAR系统性能分析方法 至一种高精度干涉SAR系统性能分析方法 | 法律状态 | 公开 | 说明书摘要 | 本发明提出一种高精度干涉SAR系统性能分析方法，通过整个闭环的仿真和处理过程来总体验证干涉系统性能。步骤1、根据用户指标需求，采用常规理论公式计算干涉SAR系统参数；步骤2、根据步骤1获得的干涉SAR系统参数，进行干涉SAR回波信号模拟；步骤3、对步骤2中仿真的回波数据进行成像处理和运动误差补偿，获得相干性的复图像；步骤4、对步骤3中获取的复图像进行干涉处理，实现同一地物在图像上对应同一像素，相位滤波滤除相位噪声；步骤5、依据步骤3中获取的成像结果和步骤4中得到的高程反演结果，对系统性能指标进行分析，验证系统是否能达到设计的需求。 |
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