| 专利名称 | 一种大口径大径厚比反射镜面形自准直检测装置及方法 | 申请号 | CN201310036160.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103134443A | 公开（授权）日 | 2013.06.05 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 曹雷;陈洪斌;邱琪;任戈;亓波;陈兴龙;温正明 | 主分类号 | G01B11/24(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/24(2006.01)I;G01B11/26(2006.01)I | 专利有效期 | 一种大口径大径厚比反射镜面形自准直检测装置及方法 至一种大口径大径厚比反射镜面形自准直检测装置及方法 | 法律状态 | 公开 | 说明书摘要 | 本发明提出了一种大口径大径厚比反射镜面形自准直检测装置，包括光源与聚光镜光轴同轴，聚光镜放置在光源的传播方向，分划板放在光源的像平面处，分光镜放置在分划板之后，光源提供的参考光经分光镜反射后向右传播至转折镜，物镜放置在转折镜之后，物镜和参考光的光轴同轴，参考光入射到被测反射镜后经反射先后经物镜、转折镜、分光镜后向左传播至电耦合器；一维旋转基座承载面形支撑调整机构，被测反射镜位于面形支撑调整机构上，面形支撑调整机构对被测反射镜进行局部调整，用以实现对被测反射镜在水平面内的平移和绕竖直轴的一维旋转，进而实现对被测反射镜的整个面形的扫描测量。本发明还提出一种大口径大径厚比反射镜面形自准直检测方法。 |
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