| 专利名称 | 可调波片式偏振干涉成像光谱仪 | 申请号 | CN201320262232.5 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN203274918U | 公开（授权）日 | 2013.11.06 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 马臻;李英才;李旭阳 | 主分类号 | G01J3/45(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/45(2006.01)I | 专利有效期 | 可调波片式偏振干涉成像光谱仪 至可调波片式偏振干涉成像光谱仪 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型涉及一种可调波片式偏振干涉成像光谱仪，包括第一检偏器、延迟量调节装置、第二检偏器以及光学成像探测系统；第一检偏器、延迟量调节装置以及第二检偏器依次设置在同一光轴上；光学成像探测系统与第二检偏器设置在同一光路上。本实用新型提供了一种结构简单且体积重量大幅减小的可调波片式偏振干涉成像光谱仪。 |
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