| 专利名称 | 一种测定聚合物薄膜玻璃化转变温度的方法 | 申请号 | CN201210137832.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103383364A | 公开（授权）日 | 2013.11.06 | 申请（专利权）人 | 中国科学院化学研究所 | 发明（设计）人 | 邵伟;胡文平 | 主分类号 | G01N25/12(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N25/12(2006.01)I | 专利有效期 | 一种测定聚合物薄膜玻璃化转变温度的方法 至一种测定聚合物薄膜玻璃化转变温度的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种测定聚合物薄膜玻璃化转变温度的方法。该方法，包括如下步骤：将待测聚合物样品作为构成有机场效应晶体管的聚合物薄膜层的材料，在恒定栅压VG和恒定源漏电压VSD的条件下升温所述有机场效应晶体管，测定所述有机场效应晶体管在所述升温过程中的源漏电流输出曲线，所述源漏电流输出曲线的转折点所对应的温度即为所述待测聚合物样品的玻璃化转变温度。该方法操作简便，制备工艺简单，可方便快捷的测出聚合物薄膜以及超薄膜的玻璃化转变温度，且灵敏度高、准确性、重现性好。 |
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