| 专利名称 | 一种多光轴成像仪的光轴平行性调校方法 | 申请号 | CN201310045544.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103116209A | 公开（授权）日 | 2013.05.22 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 王淑荣;李占峰 | 主分类号 | G02B7/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G02B7/00(2006.01)I;G02B7/18(2006.01)I;G02B7/198(2006.01)I | 专利有效期 | 一种多光轴成像仪的光轴平行性调校方法 至一种多光轴成像仪的光轴平行性调校方法 | 法律状态 | 公开 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种多光轴成像仪的光轴平行性调校方法，包括以下步骤：在干涉仪上装配标准平面镜，调节单模双平面反射镜自准直；将多光轴成像仪的光机结构倒置放入干涉仪和单模双平面反射镜之间；调节多光轴成像仪的安装基面垂直于干涉仪的光轴；将干涉仪上装配标准球面镜，调节第一通道光机系统在安装基面上的位置及倾斜角度，使第一通道光机系统与标准球面镜系统共焦；调节第二通道光机系统在安装基面上的位置及倾斜角度，使第二通道光机系统与标准球面镜系统共焦。本发明的方法不需要任何专用装置，且能实现多光轴平行性和系统波像差的同时调校，有效提高了调校精度和效率。 |
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