| 专利名称 | 一种超灵敏光谱仪以及光谱检测方法 | 申请号 | CN201310027659.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103115680A | 公开（授权）日 | 2013.05.22 | 申请（专利权）人 | 中国科学院空间科学与应用研究中心 | 发明（设计）人 | 翟光杰;俞文凯;王超 | 主分类号 | G01J3/28(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/28(2006.01)I | 专利有效期 | 一种超灵敏光谱仪以及光谱检测方法 至一种超灵敏光谱仪以及光谱检测方法 | 法律状态 | 授权 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种超灵敏光谱仪，包括光学单元和电学单元；光学单元包括入射狭缝、光准直部件、凹面镜、光栅分光部件、空间光调制器、会聚收光部件；凹面镜包括第一凹面镜，第二凹面镜；电学单元包括随机数发生器、单光子点探测器、计数器、控制模块、数据包存储器以及压缩感知模块；待测极弱光经由入射狭缝入射，然后通过光准直部件和第一凹面镜做扩束和准直，使之成为平行光；平行光照射到光栅分光部件生成光栅反射光场，再经过第二凹面镜反射，在空间光调制器上展开形成光谱带；空间光调制器对光谱带进行随机调制，使得其出射光以一定的随机概率向会聚收光部件发射；会聚收光部件滤除杂散光，将过滤后的光传输到电学单元中的单光子点探测器。 |
1、源头对接，价格透明
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