| 专利名称 | 实现显微镜系统超分辨成像的方法 | 申请号 | CN201210111518.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103377746A | 公开（授权）日 | 2013.10.30 | 申请（专利权）人 | 中国科学技术大学 | 发明（设计）人 | 吴自玉;高昆;陈健;葛昕;王志立;王大江;潘志云 | 主分类号 | G21K7/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G21K7/00(2006.01)I | 专利有效期 | 实现显微镜系统超分辨成像的方法 至实现显微镜系统超分辨成像的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种实现显微镜系统超分辨成像的方法。该方法基于一包括光源、聚焦镜、物镜和图像探测器的显微镜系统，包括：搭建显微镜系统；改变显微镜系统中聚焦镜的数值孔径，采集样品的分别对应不同聚焦镜数值孔径的至少两张暗场像；在至少两张暗场像中分别提取对应像素的散射强度值，构造以聚焦镜数值孔径为自变量，以所提取的散射强度值为因变量的实验散射强度曲线；由实验散射强度曲线获得样品上瑞利分辨单元内部亚分辨尺度的微观结构信息，实现显微镜的超分辨成像。本发明具有突破显微镜系统的固有分辨率极限、并提升成像衬度的优点。 |
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