| 专利名称 | 用于霍尔测试的碲镉汞栅控结构光导探测器 | 申请号 | CN201320142505.2 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN203250772U | 公开（授权）日 | 2013.10.23 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明（设计）人 | 徐鹏霄;张可锋;李向阳;刘新智;赵水平;朱龙源;刘福浩;张立瑶 | 主分类号 | H01L31/112(2006.01)I | IPC主分类号 | H01L31/112(2006.01)I;H01L31/0224(2006.01)I;H01L31/18(2006.01)I | 专利有效期 | 用于霍尔测试的碲镉汞栅控结构光导探测器 至用于霍尔测试的碲镉汞栅控结构光导探测器 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型公开了一种用于霍尔测试的碲镉汞栅控结构光导探测器，其结构包括：衬底，此衬底为蓝宝石片；碲镉汞材料，该材料经双面粗、精抛处理后生长阳极氧化层；环氧树脂胶，此胶用作把碲镉汞材料与衬底粘结在一起；ZnS钝化层，该层起钝化材料表面和增透的双重作用；霍尔电极，此电极前后共四个，生长在碲镉汞材料上，用作霍尔测试和器件性能测试的信号引出电极；透明栅电极，该电极生长在ZnS钝化层上，通过此电极对器件施加栅压；加厚电极，此电极生长在透明栅电极上。该结构的探测器在器件性能测试和霍尔测试过程中均可施加栅压，获得器件性能最优时所需的栅压、材料载流子浓度、迁移率等电学参数条件，极大缩短器件的研制进程。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障