| 专利名称 | 基于光栅剪切成像的安检设备及方法 | 申请号 | CN201310111197.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103364839A | 公开（授权）日 | 2013.10.23 | 申请（专利权）人 | 中国科学院高能物理研究所 | 发明（设计）人 | 朱佩平;黄万霞;张凯;洪友丽;袁清习 | 主分类号 | G01V5/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01V5/00(2006.01)I | 专利有效期 | 基于光栅剪切成像的安检设备及方法 至基于光栅剪切成像的安检设备及方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种基于光栅剪切成像的安检设备及方法。该设备包括：用于产生多缝X射线光源的光源装置；具有狭缝的扇形光束产生装置，在X射线光源产生的光束的照射下产生扇形光束，并照射分束光栅；被检物品通道；设于通道一侧的分束光栅，将扇形光束分束为一维光束阵列；分析光栅阵列，产生不同的光强背景，增强或抑制被检物品的折射或散射信号；线阵探测器阵列，贴近分析光栅放置，探测光强的背景和空间位置的变化，在不同光强背景下采集被检物品的投影像。本发明的设备和方法具有被检物品一次通过、同时实现被检物品吸收、折射和散射三种特性的检测，具有简便快速检测多种物质特性的优点，并能够提升对炸药等有机物的探测效率。 |
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