| 专利名称 | X射线微分相衬显微成像系统及成像方法 | 申请号 | CN201210592499.0 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103364416A | 公开（授权）日 | 2013.10.23 | 申请（专利权）人 | 中国科学院高能物理研究所 | 发明（设计）人 | 朱佩平;洪友丽;张凯;袁清习;黄万霞;吴自玉 | 主分类号 | G01N23/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N23/00(2006.01)I;G01N23/06(2006.01)I;G01N23/20(2006.01)I | 专利有效期 | X射线微分相衬显微成像系统及成像方法 至X射线微分相衬显微成像系统及成像方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及纳米分辨X射线波带片显微成像技术领域，具体公开了一种X射线微分相衬显微成像系统成像方法，所述系统按照X射线传播方向依次包括X射线光源、聚光镜、样品台、X射线波带片、吸收环和成像探测器。本发明虽然是针对波带片为物镜的X射线显微镜的不足而提出的，并且采用本发明的X射线微分相衬显微成像系统和二维成像方法和/或三维成像方法能够对物体快速成像。 |
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