| 专利名称 | 一种连续温度磁性参数测量系统及测量方法 | 申请号 | CN201310229264.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103353614A | 公开（授权）日 | 2013.10.16 | 申请（专利权）人 | 中国科学院地质与地球物理研究所 | 发明（设计）人 | 刘双迟;秦华峰;王华沛;刘青松;朱日祥 | 主分类号 | G01V3/40(2006.01)I | IPC主分类号 | G01V3/40(2006.01)I | 专利有效期 | 一种连续温度磁性参数测量系统及测量方法 至一种连续温度磁性参数测量系统及测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种连续温度磁性参数测量系统及测量方法，测量系统包括：样品腔（1）、计算机（2）、信号测量采集系统（3）、机械传动系统（4）、温控系统（5）、气流输送系统（6）、隔热部分（7）、磁屏蔽装置（8）和磁场控制系统（9），其中信号测量采集系统（3）和机械传动系统（4）两部分协同完成多种磁性参数的测量采集；温控系统（5）与气流输送系统（6）互相协作对样品（10）进行精确温度控制；磁屏蔽装置（8）用于提供一个较低的静磁环境，磁场控制系统（9）在达到预设温度后加载预定磁场，计算机（2）控制系统各个部分协同工作。 |
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