硅基III-V族纳米线选区横向外延生长的方法

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专利名称 硅基III-V族纳米线选区横向外延生长的方法 申请号 CN201310232595.9 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN103346070A 公开(授权)日 2013.10.09 申请(专利权)人 中国科学院半导体研究所 发明(设计)人 韩伟华;杨晓光;杨涛;王昊;洪文婷;杨富华 主分类号 H01L21/205(2006.01)I IPC主分类号 H01L21/205(2006.01)I;B82Y40/00(2011.01)I 专利有效期 硅基III-V族纳米线选区横向外延生长的方法 至硅基III-V族纳米线选区横向外延生长的方法 法律状态 实质审查的生效 说明书摘要 本发明提供了一种硅基III-V族纳米线选区横向外延生长的方法。该方法包括:步骤A,在(110)晶面SOI衬底的顶硅薄层上制备整段硅纳米线;步骤B,去除整段硅纳米线的中段部分,在保留的左段硅纳米线和右段硅纳米线朝向内侧的端面形成硅(111)晶面;以及步骤C,在左段硅纳米线和右段硅纳米线朝向内侧的,具有硅(111)晶面的两端面之间横向选区生长III-V族材料纳米线,形成异质结桥接结构。本发明利用硅(111)晶面有较高的悬挂键密度和较低的表面自由能的特性,可以低成本实现在两段硅纳米线之间硅(111)晶面侧壁上III-V族纳米线的选区横向生长。

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