| 专利名称 | 芯片内部压降测量装置及测量方法 | 申请号 | CN201310258435.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103344817A | 公开（授权）日 | 2013.10.09 | 申请（专利权）人 | 中国科学院计算技术研究所 | 发明（设计）人 | 张译夫;秦石强;崔明艳 | 主分类号 | G01R19/10(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R19/10(2006.01)I | 专利有效期 | 芯片内部压降测量装置及测量方法 至芯片内部压降测量装置及测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种芯片内部压降的测量装置及方法，包括多级压控振荡器，用于将芯片内部压降转换为振荡信号，并且所述压控振荡器环振级数可选择多级、所述压控振荡器频率可配置；可调时间窗口控制模块，用于产生一个可调的时间窗口，控制所述压控振荡器在所述的时间窗口内工作；计数器，用于采样所述时间窗口内所述压控振荡器的振荡次数，并输出不同工作环境下的压降结果，满足了对芯片内部压降测量的需求。 |
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