| 专利名称 | 光电经纬仪伺服系统性能测试装置及测试方法 | 申请号 | CN201310280381.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103344258A | 公开（授权）日 | 2013.10.09 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 武治国;王明佳 | 主分类号 | G01C25/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01C25/00(2006.01)I | 专利有效期 | 光电经纬仪伺服系统性能测试装置及测试方法 至光电经纬仪伺服系统性能测试装置及测试方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种光电经纬仪伺服系统性能测试装置，包括：模拟目标生成器和伺服系统控制表现器；所述模拟目标生成器用于产生目标运动序列图片及确定每张图片对应的目标位置；所述伺服系统控制表现器用于：使光电经纬仪的伺服系统根据模拟目标脱靶量控制光电经纬仪转动；记录光电经纬仪旋转角度位置；显示每幅目标图像在光电经纬仪转动情况下的模拟运动目标图像。本发明的光电经纬仪伺服系统性能测试装置及测试方法，可以精确评估伺服系统控制光电经纬仪的跟踪性能，测试系统通过图像中目标的运动状态直观的展示了伺服系统的目标跟踪稳定性，可以模拟出伺服系统真实的目标跟踪效果图像。 |
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