| 专利名称 | 方波调制实现空间测角的方法 | 申请号 | CN201310269890.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103344199A | 公开（授权）日 | 2013.10.09 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 陆卫国;吴易明;肖茂森;李春艳;王海霞 | 主分类号 | G01B11/26(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/26(2006.01)I | 专利有效期 | 方波调制实现空间测角的方法 至方波调制实现空间测角的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供了一种方波调制实现空间测角的方法，旨在实现高精度、稳定测角。该方法中，线偏振光经过外加的一种具体方波磁光调制信号的磁光玻璃后，成为携带调制信号的调制偏振信号光；调制偏振信号光经过渥拉斯顿棱镜，分为两路偏振方向相互垂直的信号光Io、Ie，分别被两个探测器接收，对接收到的信号输出至信号处理电路，进行特定的优化解算，从而得出渥拉斯顿棱镜光轴与起偏器光轴之间相对初始夹角45°的偏离方位角α。本发明消除了光源波动、两路信号增益差异、调制度mf波动的影响及Wollaston棱镜出射光强非线性的影响，提高了装置实用性，使整个装置具有测角精度高、测角速度快、稳定可靠等特点。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障