| 专利名称 | PZT调制系数测试装置及测试方法 | 申请号 | CN201310257844.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103344414A | 公开（授权）日 | 2013.10.09 | 申请（专利权）人 | 中国科学院半导体研究所 | 发明（设计）人 | 方高升;徐团伟;李芳 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | PZT调制系数测试装置及测试方法 至PZT调制系数测试装置及测试方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种PZT调制系数测试装置及测试方法，其中PZT调制系数测试装置，包括：一窄线宽半导体激光器；一光隔离器，其输入端与窄线宽半导体激光器的输出端连接；一迈克尔逊干涉仪，其第一输入端与光隔离器的输出端连接；一光电探测器，其输入端与迈克尔逊干涉仪的输出端连接；一数据采集卡，其第一输入端与光电探测器的输出端连接；一数据处理系统，其输入端与数据采集卡的输出端连接；一载波电路，其第一输出端与迈克尔逊干涉仪的第二输入端连接，第二输出端与数据采集卡的第二输入端连接。本发明其可解决现有光纤激光式传感解调系统中PZT调制系数稳定控制与调节的技术问题。 |
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