相变存储单元及其制备方法

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专利名称 相变存储单元及其制备方法 申请号 CN201310306025.X 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN103346258A 公开(授权)日 2013.10.09 申请(专利权)人 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 发明(设计)人 宋志棠;任堃;饶峰;宋三年;陈邦明 主分类号 H01L45/00(2006.01)I IPC主分类号 H01L45/00(2006.01)I 专利有效期 相变存储单元及其制备方法 至相变存储单元及其制备方法 法律状态 实质审查的生效 说明书摘要 本发明提供相变存储单元及其制备方法,采用厚度与单个晶胞或者多个晶胞尺度相当的相变材料层,使相变材料基本上体现出界面特性,而弱化体材料特性,以制备利用界面电阻变化来存储信息的高密度、低功耗、高速二维相变存储单元。本发明的相变材料层厚度薄及相变材料层界面上存在少量的缺陷,促使相变存储单元操作功耗的降低和操作时间的缩短,减少了每次操作过程对相变材料的损害,使每次操作对材料的元素偏析效果降低,增加了相变存储单元的最大可操作次数,从而有利于提高器件循环操作次数的能力;进一步,本发明中采用的石墨烯电极对还具有信号响应快、机械强度大、能量损耗少等特点;同时,本发明还可实现与新型CMOS的兼容。

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