| 专利名称 | 双模折反射式共探测器成像系统 | 申请号 | CN201310275716.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103345051A | 公开（授权）日 | 2013.10.09 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 付强;张新;史广维;王灵杰;张建萍 | 主分类号 | G02B17/08(2006.01)I | IPC主分类号 | G02B17/08(2006.01)I | 专利有效期 | 双模折反射式共探测器成像系统 至双模折反射式共探测器成像系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 双模折反射式共探测器成像系统属于光学技术领域，该系统包括：主镜、次镜、中继镜组和焦平面探测器；所有部件皆为同光轴放置；其中，主镜和次镜为卡塞格林结构；主镜有中心孔，次镜放置在主镜的前方，中继镜组和焦平面探测器放置在次镜后方；次镜为曼金镜，其前表面反射中波红外，透射长波红外；后表面反射长波红外；次镜两个反射面的设置使得中波红外和长波红外的光程相等，以使得中波红外和长波红外在不调焦的情况下成像在同一焦平面上。该系统可以实现双波段工作，长焦距、大相对孔径成像，结构紧凑，畸变小，传递函数达到或接近衍射极限，冷阑匹配达到100%。 |
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