| 专利名称 | CICC超导接头的低温电阻测量系统的制作及测量方法 | 申请号 | CN201310250363.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103336179A | 公开（授权）日 | 2013.10.02 | 申请（专利权）人 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 发明（设计）人 | 谭运飞;陈治友;朱加伍;黄鹏程;陈文革;徐飞龙;匡光力 | 主分类号 | G01R27/14(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R27/14(2006.01)I | 专利有效期 | CICC超导接头的低温电阻测量系统的制作及测量方法 至CICC超导接头的低温电阻测量系统的制作及测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种CICC超导接头的低温电阻测量系统的制作及测量方法，包括两个待测超导接头、一根U形的CICC导体、一根带有两匝线圈的U形CICC导体、NbTi股线密绕的超导线圈、霍尔传感器以及电位测量引线组成；首先在室温下利用霍尔传感器对整个测量系统的电流和磁场的关系进行标定；再将整个测量系统浸泡在液氦中获得低温工作环境；通过改变NbTi股线密绕的超导线圈组成的初级线圈的工作电流，在CICC导体回路中感应出大电流；通过霍尔传感器的电压信号计算出整个回路的感应电流；通过接头两端的电位信号测量接头两端的电压，测量出CICC超导接头的电阻性能。本发明可以以较低的成本，准确、可靠的完成对超导接头样品低温电阻性能的测量。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障