| 专利名称 | 大口径空间光学系统外场波前像差检测方法 | 申请号 | CN201310280415.4 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103335824A | 公开（授权）日 | 2013.10.02 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 闫锋;张学军 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 大口径空间光学系统外场波前像差检测方法 至大口径空间光学系统外场波前像差检测方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 大口径空间光学系统外场波前像差测量方法，属于光学系统先进制造技术领域，为解决现有检测手段无法满足大口径空间光学系统的外场波前像差测量要求的问题，本发明测量方法包括：一、测量条件初始化，将四维调整架和小口径平行光发生装置放在被测光学系统前的适当位置；通过辅助设备令小口径平行光发生装置指向指定的视场，并锁死x、y方向转动装置；将被测光学系统的光学参数、小口径平行光口径及测量所需的子孔径数目输入控制计算机；根据初始参数，控制计算机生成小口径平行光发生装置的初始位置及运动轨迹；二、波前斜率测量，三、波前像差拟合；由于波面斜率可以逐点、分时测量，无需使用大口径平行光管，降低了此类系统外场波前像差的难度。 |
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