| 专利名称 | 四分之一波片相位延迟量的测量装置和测量方法 | 申请号 | CN201310250418.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103335821A | 公开（授权）日 | 2013.10.02 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 曾爱军;邓柏寒;刘龙海;朱玲琳;黄惠杰 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 四分之一波片相位延迟量的测量装置和测量方法 至四分之一波片相位延迟量的测量装置和测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种四分之一波片相位延迟量的测量装置和测量方法，该装置由准直光源、圆起偏器、光弹调制器、圆检偏器、光电探测器、光弹控制器、锁相放大器和计算机组成。本发明只需一个光弹调制器即可测量四分之一波片的相位延迟量，只需要一个锁相放大器，装置简单，结构紧凑，操作方便。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障