| 专利名称 | 一种校正光敏元辐射通量非均匀性的数据处理方法 | 申请号 | CN201310251707.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103335725A | 公开（授权）日 | 2013.10.02 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明（设计）人 | 华桦;陈星;李杨;何凯;胡晓宁 | 主分类号 | G01J5/10(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J5/10(2006.01)I | 专利有效期 | 一种校正光敏元辐射通量非均匀性的数据处理方法 至一种校正光敏元辐射通量非均匀性的数据处理方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种校正光敏元辐射通量非均匀性的数据处理方法，该方法利用矩阵运算的方法，根据安装探测器的实际杜瓦组件的几何尺寸精确计算光敏元辐射通量矩阵后对测试得到的探测器响应率进行校正，主要步骤包括：1，测量杜瓦组件的几何参数；2，计算探测器的对角线长度；3，计算最大黑体扩展源直径；4，生成最大黑体扩展源位置矩阵；5，生成杜瓦窗口矩阵；6，生成探测器视场范围矩阵；7，计算探测器对角线上光敏元的辐照度向量；8，计算整个探测器上的光敏元辐射通量矩阵；9，校正探测器光敏元响应率。本发明的优点为：计算结果准确，计算速度快。 |
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