| 专利名称 | 一种绝对式光栅尺绝对位置信息的校正及读取电路 | 申请号 | CN201310269920.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103335671A | 公开（授权）日 | 2013.10.02 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 吴宏圣;乔栋;孙强;刘阳;张立华 | 主分类号 | G01D18/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01D18/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种绝对式光栅尺绝对位置信息的校正及读取电路 至一种绝对式光栅尺绝对位置信息的校正及读取电路 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种绝对式光栅尺绝对位置信息的校正及读取电路属于精密机械加工测量领域，包括光电探测器阵列、信号放大电路阵列、采样保持电路阵列、信号基准校正电路、信号增益校正电路和校正数据存储器；光电探测器阵列将位置光信号发送到信号放大电路阵列，其将信号放大，发送至采样保持电路阵列；信号基准校正电路读取校正数据存储器中的基准校正数据产生偏置电压，信号增益校正电路读取增益校正数据设定增益范围；信号基准校正电路和信号增益校正电路对采样保持电路阵列输出的信号进行基准、增益和放大，提供给A/D使用。该电路解决了共模噪声、光源的非均匀分布、光电探测器的不匹配等问题，并具有结构简单、电路参数可配置的、可片内集成的特定。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障