| 专利名称 | 一种基线动态测量系统的精度获取方法 | 申请号 | CN201210077707.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103323855A | 公开（授权）日 | 2013.09.25 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明（设计）人 | 向茂生;王静;韦立登;刘忠胜;孙曦蕊 | 主分类号 | G01S17/89(2006.01)I | IPC主分类号 | G01S17/89(2006.01)I;G01S7/48(2006.01)I | 专利有效期 | 一种基线动态测量系统的精度获取方法 至一种基线动态测量系统的精度获取方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种基线动态测量系统的精度获取方法。该方法包括：天线模拟运动平台产生天线运动所需要的运动轨迹，基线动态测量系统和激光跟踪仪同时测量天线模型上其合作目标的位置和姿态变化，分别得到天线模型的相位中心的位置和姿态变化；根据基线动态测量系统和激光跟踪仪的坐标系转换关系，把激光跟踪仪测量的模拟天线的相位中心的位置和姿态变化统一到基线动态测量系统坐标系下；以基线动态测量系统坐标系下激光跟踪仪测量的天线的相位中心的位置和姿态变化作为标准值，将基线动态测量系统的测量值与该标准值比较，进行误差统计分析，得到基线动态测量系统的测量精度。本发明采用高精度的激光跟踪仪作为参照系统，误差小，评估的精度更真实可靠。 |
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