| 专利名称 | 一种天线距离向加权比值测高方法及装置 | 申请号 | CN201310076743.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103323835A | 公开（授权）日 | 2013.09.25 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明（设计）人 | 冯锦;许丽颖;陈永强;张圆圆;王宇;赵凤军 | 主分类号 | G01S13/06(2006.01)I | IPC主分类号 | G01S13/06(2006.01)I | 专利有效期 | 一种天线距离向加权比值测高方法及装置 至一种天线距离向加权比值测高方法及装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种天线距离向加权比值测高方法，包括：利用相控阵单天线分时获取同一场景的两幅图像；确定所述两幅图像的像素比，作为分时天线的距离向加权函数的比；利用所述距离向加权函数的比确定目标视角，根据所述目标视角确定目标高度。本发明还同时公开了一种天线距离向加权比值测高装置，采用本发明，能够以较低的计算量实现对目标物的高度的测量，保证了测高精度，避免了测高精度与配准精度、相位模糊与测高精度冲突的问题。 |
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