| 专利名称 | 一种生成二维相位解缠质量图的方法及装置 | 申请号 | CN201310080570.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103325092A | 公开（授权）日 | 2013.09.25 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明（设计）人 | 柳罡;邓云凯;王宇;李泓宇;陈润璞;邵云峰;袁志辉;李兴林 | 主分类号 | G06T5/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G06T5/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种生成二维相位解缠质量图的方法及装置 至一种生成二维相位解缠质量图的方法及装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种生成二维相位解缠质量图的方法，包括：将缠绕相位数据变换为Ng个灰度等级数据；对变换后的灰度等级数据进行分块，将分块后的每个数据块生成对应的灰度共生矩阵(GLCM)；采用新型的熵差计算模型计算生成的每个数据块对应的所述GLCM的熵差，得到二维相位解缠质量图。本发明同时公开了一种生成二维相位解缠质量图的装置，采用本发明的方法及装置，能生成稳定、有效的质量图，从而能正确地指导二维相位解缠，使得相位解缠结果更加可靠。 |
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