薄膜光电导探测器及其制备方法与应用

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专利名称 薄膜光电导探测器及其制备方法与应用 申请号 CN201310183177.5 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN103311439A 公开(授权)日 2013.09.18 申请(专利权)人 中国科学院化学研究所 发明(设计)人 靳志文;王吉政;张志国 主分类号 H01L51/46(2006.01)I IPC主分类号 H01L51/46(2006.01)I;H01L51/48(2006.01)I 专利有效期 薄膜光电导探测器及其制备方法与应用 至薄膜光电导探测器及其制备方法与应用 法律状态 实质审查的生效 说明书摘要 本发明公开了一种薄膜光电导探测器及其制备方法与应用。该薄膜光电导探测器,由下至上依次包括基底、载流子传输层、电极层和吸光层;电极层由位于同一层的正极层和负极层组成。该探测器结合了无机材料的高迁移率与有机材料的高吸光,当光照射到光电器件的有机层上时,最上层的有机材料吸光产生载流子,由于有机层与无机层间的能级差与载流子的浓度差,光生载流子进入无机材料层,并很快的被电极收集从而有很大的G和R值。同时,因为无机材料高的迁移率,使的器件的光电流响应时间和衰减时间也大大减小,从而提高了薄膜光导器件的灵敏度,具有重要的应用价值。

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