| 专利名称 | 一种基于自适应技术的二维平面采样方法 | 申请号 | CN201310231667.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103310447A | 公开（授权）日 | 2013.09.18 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 王楠;蒋薇;严伟;胡松 | 主分类号 | G06T7/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G06T7/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种基于自适应技术的二维平面采样方法 至一种基于自适应技术的二维平面采样方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种基于自适应技术的二维平面采样方法，首先使用均匀的稀疏网格进行一次采样，由评估算法对采样结果进行评价，得到具有不同频率范围的分区域，对各分区域的网格测量点进行替换；然后由新生成的网格对采样物体的表面进行二次采样，再次使用评估算法对测量结果进行评价，根据频率的高低对网格进行修正；如此反复进行修正，直到通过评估算法为止。最后由测量系统根据此测量网格对需采样物体表面进行采样。本发明能保证采样点个数最少，也能保证相同采样点个数情况下，采样效果最佳。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障