| 专利名称 | 一种激光测距机的测距精度测试装置及方法 | 申请号 | CN201310221291.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103308903A | 公开（授权）日 | 2013.09.18 | 申请（专利权）人 | 中国科学院半导体研究所 | 发明（设计）人 | 杨盈莹;林学春;赵伟芳;王文婷;伊肖静;张玲;于海娟 | 主分类号 | G01S7/497(2006.01)I | IPC主分类号 | G01S7/497(2006.01)I | 专利有效期 | 一种激光测距机的测距精度测试装置及方法 至一种激光测距机的测距精度测试装置及方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种激光测距机的测距精度简易测试装置及方法。该装置包括：激光器，用于发射激光束；目标，用于反射所述激光束；距离精度测试装置，由N对反射镜构成，每对反射镜由互相平行的两个反射镜构成，其用于接收被目标所反射后的所述激光束，所述激光束经过所述N对反射镜反射后返回至探测器；探测器，其用于接收由距离精度测试装置返回的激光束；其中，所述N对反射镜之间的距离可调，通过调整反射镜之间的距离改变激光束的光程，进而得到激光测距机的测距精度。该装置结构简单，易便携，测试快捷方便，直接客观，需要的测试空间小、干扰因素少、测量结果精确度高。 |
1、源头对接，价格透明
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