| 专利名称 | 一种高精度长程面形检测系统及检测方法 | 申请号 | CN201310182031.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103292728A | 公开（授权）日 | 2013.09.11 | 申请（专利权）人 | 中国科学院高能物理研究所 | 发明（设计）人 | 杨福桂;李明;刘鹏;盛伟繁 | 主分类号 | G01B11/24(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/24(2006.01)I | 专利有效期 | 一种高精度长程面形检测系统及检测方法 至一种高精度长程面形检测系统及检测方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种高精度长程面形检测系统及检测方法，包括光学头，所述光学头用于将激光光源输出的光线分为参考光束和采样光束，所述采样光束经一分束装置分为沿所述光学头采样移动方向上相互平行采样光间距分别为s1和s2三路平行光，s1和s2称为横向剪切量，且每一路采样光的光路中设有一光学开关。所述参考光束依次经一反射镜、所述光学头返回输入到信号采集处理模块；所述采样光束经所述分束装置、所述光学头返回输入到信号采集处理模块；所述信号采集处理模块根据剪切向量对应的剪切图重建的待测物体表面倾斜角度。本发明能够有效降低扫描过程中测试光路中光学元件形貌误差和气浮导轨运动误差对测量结果的影响，提高测量精度。 |
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