| 专利名称 | 光学元件体内激光损伤自动快速探测装置 | 申请号 | CN201310161404.4 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103278309A | 公开（授权）日 | 2013.09.04 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 胡国行;赵元安;易葵;李大伟;刘晓凤;柯立松 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 光学元件体内激光损伤自动快速探测装置 至光学元件体内激光损伤自动快速探测装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种光学元件体内激光损伤自动快速探测装置，构成包括：置于移动平台上的待测光学元件；由依次的Nd:YAG激光器和第一聚焦透镜组成的脉冲激光辐射系统；由第一HeNe连续激光器、第二聚焦透镜、第二HeNe激光器和第三聚焦透镜构成的HeNe激光照明系统；由依次的同光轴的孔径光阑、散射光收集透镜组、视场光阑和光电探测器组成的损伤探测系统，所述的光电探测器的输出端与计算机的输入端相连，该计算机的输出端通过数据输出卡与所述的Nd:YAG激光器和移动平台的控制端相连。本发明适于各类光学元件体内损伤的自动快速探测和判断。 |
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