| 专利名称 | BCH码检纠错方法、电路及容错存储器 | 申请号 | CN201310224101.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103269231A | 公开（授权）日 | 2013.08.28 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 发明（设计）人 | 张怡云;陈后鹏;宋志棠 | 主分类号 | H03M13/15(2006.01)I | IPC主分类号 | H03M13/15(2006.01)I | 专利有效期 | BCH码检纠错方法、电路及容错存储器 至BCH码检纠错方法、电路及容错存储器 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种BCH码检纠错方法、电路及容错存储器。根据本发明的方法，先基于已经过BCH编码的待检验BCH数据组的监督矩阵来计算待检验BCH数据组的待比较校正子；随后，若所述待比较校正子不为0，则将所述待比较校正子与多个标准校正子进行比较，并基于与所述待比较校正子不同的数据位数量最少、且所指明的错误位数也最少的标准校正子来校正所述待检验BCH数据组中的相应数据。与BCH码的原纠正能力相比，本发明能更大限度地利用了校验码，提高了纠错能力；且BCH码检纠错电路可由纯逻辑电路构成，不需要时钟，仅存在门延迟，适合应用于SPI接口之类对时序有特别要求的情况。? |
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