| 专利名称 | 用于真空腔内观测的长工作距离显微光学系统 | 申请号 | CN201310180052.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103257436A | 公开（授权）日 | 2013.08.21 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 张元;金光;钟兴;刘春雨;王天聪;孔令胜 | 主分类号 | G02B21/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G02B21/02(2006.01)I;G02B13/00(2006.01)I;G02B1/00(2006.01)I | 专利有效期 | 用于真空腔内观测的长工作距离显微光学系统 至用于真空腔内观测的长工作距离显微光学系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 用于真空腔内观测的长工作距离显微光学系统，涉及光学设计领域，解决了现有适合空间应用的小型化长工作距显微光学系统不能够对真空腔内微小目标观测的问题，该光学系统从物面至像面沿光轴依次设置有窗口玻璃、第一负透镜、第二负透镜、第三正透镜、第四负透镜、第五正透镜、第五负透镜、第六正透镜、第六负透镜、第七正透镜和第七负透镜，物面与窗口玻璃之间的距离d1为98mm；来自物面的光束依次通过窗口玻璃、第一负透镜、第二负透镜、第三正透镜、第四负透镜、第五正透镜、第五负透镜、第六正透镜、第六负透镜、第七正透镜和第七负透镜至像面。本发明增加了前工作距离，为98mm，能够对真空腔内微小目标远距离观测，色差得以校正。 |
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