| 专利名称 | 纳米尺度材料内耗与模量测量方法及装置 | 申请号 | CN201210035474.0 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103257106A | 公开（授权）日 | 2013.08.21 | 申请（专利权）人 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 发明（设计）人 | 庄重;郭丽君;程帜军;吴兵;王先平;方前锋 | 主分类号 | G01N19/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N19/00(2006.01)I;G01N19/08(2006.01)I;B82Y35/00(2011.01)I | 专利有效期 | 纳米尺度材料内耗与模量测量方法及装置 至纳米尺度材料内耗与模量测量方法及装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种纳米尺度材料内耗与模量测量方法，涉及材料测量技术领域，其特征在于：所述的测量方法采用静电激发方式驱动纳米材料做自由衰减(自由衰减测量模式，即测量纳米样品从一定偏转幅度开始的阻尼振动)或者强迫振动运动(强迫振动测量模式，即测量纳米样品在周期性应力作用下的应变)，通过高速视频采集系统(高速相机)将电子显微镜观测的样品振动信号进行实时处理并运算出纳米材料的内耗值和相对模量；本发明根据以上的测量方法还提供了一种纳米尺度材料内耗与模量测量装置，装置结构简单，使用方便。本发明方法简便，易于测量，且测量精确，为表征该尺度材料微观结构性质提供了科学表征平台。 |
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