| 专利名称 | 低温绝对辐射计绝对光谱响应度定标方法及实验装置 | 申请号 | CN201310090819.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103256976A | 公开（授权）日 | 2013.08.21 | 申请（专利权）人 | 中国科学院安徽光学精密机械研究所;安徽万瑞冷电科技有限公司;中国电子科技集团公司第四十一研究所 | 发明（设计）人 | 李健军;郑小兵;张海峰;丁先庚;史学舜;陈坤峰;庞伟伟;吴浩宇;仰叶;武义峰;张俊峰;张伟 | 主分类号 | G01J1/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J1/00(2006.01)I | 专利有效期 | 低温绝对辐射计绝对光谱响应度定标方法及实验装置 至低温绝对辐射计绝对光谱响应度定标方法及实验装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种低温绝对辐射计绝对光谱响应度定标方法及实验装置，主要包括有：主光路单元、摆动模块单元、低温绝对辐射计、探测器真空仓、主控计算机；本发明思路是将标准传递探测器和低温绝对辐射计置于同一真空环境中，通过弧形导轨的驱动控制，保证低温绝对辐射计和标准传递探测器经过相同的光路传输路径，接收的入射光功率完全一致，从而消除了测量窗口透过率过程中带来的不确定度的影响，这将大大提高了低温绝对辐射计标准传递过程中的精度，实现紫外-红外波段范围内的标准传递探测器绝对光谱响应度的高精度定标。 |
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