| 专利名称 | 用于检测超导带材的绝缘层的绝缘性能的检测设备 | 申请号 | CN201110412664.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102520321A | 公开（授权）日 | 2012.06.27 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电工研究所 | 发明（设计）人 | 许熙;滕玉平;张志丰;戴少涛 | 主分类号 | G01R31/12(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R31/12(2006.01)I | 专利有效期 | 用于检测超导带材的绝缘层的绝缘性能的检测设备 至用于检测超导带材的绝缘层的绝缘性能的检测设备 | 法律状态 | 公开 | 说明书摘要 | 本发明公开一种用于检测超导带材的绝缘层的绝缘性能的检测设备，包括：液氮容器；放带盘；第一电机，用于驱动放带盘旋转；电极组件；第一定滑轮，从放带盘出来的超导带材经过第一定滑轮，并向电极组件输送；第二定滑轮，从电极组件出来的超导带材经过第二定滑轮；收带盘，从第二定滑轮出来的超导带材卷绕到收带盘上；及第二电机，用于驱动收带盘旋转，其中超导带本体与接地系统连接以便具备接地电位，并且控制器控制第一电机和第二电机以预定速度旋转，使得超导带材在液氮容器内的液氮中、以恒定速度通过电极组件，从而对超导带材的绝缘层的绝缘性能进行连续检测。本发明检测设备能极大地提高超导带材绝缘性能的检测效率和速度。 |
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