| 专利名称 | 八分之一波片相位延迟量测量装置和测量方法 | 申请号 | CN201110433699.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102519712A | 公开（授权）日 | 2012.06.27 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 方瑞芳;曾爱军;刘龙海;朱玲琳;袁乔;黄惠杰 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 八分之一波片相位延迟量测量装置和测量方法 至八分之一波片相位延迟量测量装置和测量方法 | 法律状态 | 公开 | 说明书摘要 | 一种八分之一波片相位延迟量的测量装置和测量方法，装置包括准直光源，特点在于其构成是：沿所述的准直光源发出的光束前进方向上，依次是偏振分光镜、四分之一波片、八分之一波片的插口、反射镜，在所述的偏振分光镜的反射光束方向上放置第一光电探测器，在垂直于入射光并与所述的第一光电探测器相反的方向放置第二光电探测器，所述的第一光电探测器和第二光电探测器的输出端接信号处理单元的输入端，所述的四分之一波片的快轴与所述的偏振分光镜的透光轴所成的角度为45°。实验表明，本发明具有结构简单、测量速度快和测量精度高的特点。 |
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