| 专利名称 | 待测光学系统杂散光检测系统 | 申请号 | CN201320090245.9 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN203132818U | 公开（授权）日 | 2013.08.14 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 潘亮;张周锋;赵建科;徐亮;田留德;刘峰 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 待测光学系统杂散光检测系统 至待测光学系统杂散光检测系统 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型涉及一种待测光学系统杂散光检测系统，包括激光器、平行光管以及探测器；所述激光器、平行光管以及探测器依次设置于同一光轴上。本实用新型提供了一种能够对被测光系统杂散光抑制水平进行客观评价，避免目前采用杂散光系数评价的不确定性的待测光学系统杂散光检测系统。 |
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