| 专利名称 | 利用光栅实现物体成像的装置 | 申请号 | CN201310172716.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103246077A | 公开（授权）日 | 2013.08.14 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 潘兴成;刘诚;朱健强 | 主分类号 | G02B27/44(2006.01)I | IPC主分类号 | G02B27/44(2006.01)I;G02B27/48(2006.01)I;G01J9/00(2006.01)I | 专利有效期 | 利用光栅实现物体成像的装置 至利用光栅实现物体成像的装置 | 法律状态 | 著录事项变更 | 说明书摘要 | 一种利用光栅实现物体成像的装置，其构成包括光源、二维光栅、固定待测样品的载物台和衍射斑记录器，所述的光源发出的光依次经过二维光栅、待测样品和衍射斑记录器，所述的光源、二维光栅、待测样品和衍射斑记录器的位置关系应满足：所述的衍射斑记录器能同时记录N×N个子衍射光斑，其中N>=3，且相邻子光斑中心之间距大于每个子光斑的直径。本发明利用光栅结合现有的PIE算法实现成像的装置，能够实现成像质量不依赖平移台精度，只需要单次曝光就能够通过PIE算法进行成像。 |
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