| 专利名称 | 一种极低温下半导体量子点低噪测量系统 | 申请号 | CN201310125176.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103235251A | 公开（授权）日 | 2013.08.07 | 申请（专利权）人 | 中国科学技术大学 | 发明（设计）人 | 尚汝南;郭国平;李海鸥;曹刚;肖明;郭光灿 | 主分类号 | G01R31/26(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R31/26(2006.01)I | 专利有效期 | 一种极低温下半导体量子点低噪测量系统 至一种极低温下半导体量子点低噪测量系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种极低温下半导体量子点低噪测量系统，包括：热沉部分、铜粉滤波器和PCB板载滤波器；热沉部分由制冷机PT1层线夹热沉、PT2层线夹热沉、Still层线夹热沉、100mK层线夹热沉和MC层线夹热沉构成；测量和控制线进入热沉部分后依次通过制冷机PT1层线夹热沉、制冷机PT2层线夹热沉、制冷机Still层线夹热沉、制冷机100mK层线夹热沉和制冷机MC层线夹热沉后至制冷机混合室冷板，经过制冷机混合室最后一级冷板后焊接在D型接口上，D型接口与铜粉滤波器的D型接口入口相连；测量和控制线再经过铜粉滤波器后，由铜粉滤波器的D型接口出口离开，通过一段测量和控制线后，排针接口进入PCB板载滤波电路，最后测量和控制线连接到量子点测量样品相应的电极上。本发明降低了热噪声和电路噪声。 |
1、源头对接，价格透明
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