一种量子产率的测试方法

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专利名称 一种量子产率的测试方法 申请号 CN201310120635.0 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN103226100A 公开(授权)日 2013.07.31 申请(专利权)人 深圳先进技术研究院 发明(设计)人 张春阳;胡娟 主分类号 G01N21/64(2006.01)I IPC主分类号 G01N21/64(2006.01)I 专利有效期 一种量子产率的测试方法 至一种量子产率的测试方法 法律状态 实质审查的生效 说明书摘要 公开了一种量子产率的测试方法,用于测试待测样品的量子产率Q,包括:提供量子产率为Qr的参比样品;提供折射率为nr的第一溶剂和折射率为n的第二溶剂,获得参比样品溶液/胶体和待测样品溶液/胶体;获得参比样品溶液/胶体的吸光度Ar,和待测样品溶液/胶体的吸光度A;制备稀释因子为Tr的参比样品稀释液,和稀释因子为T的待测样品稀释液;获得参比样品稀释液的荧光图像的分子或粒子个数Nr和单个分子或粒子的荧光强度Ir,和待测样品稀释液的荧光图像的分子或粒子个数N和单个分子或粒子的荧光强度I;计算单分子水平下的量子产率该测试方法简单,测量准确性较高,为量子产率计算提供了理论方法。

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