| 专利名称 | 一种小角和广角X射线散射联用装置及其实验测试方法 | 申请号 | CN201310119544.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103207195A | 公开（授权）日 | 2013.07.17 | 申请（专利权）人 | 中国科学技术大学 | 发明（设计）人 | 李良彬;崔昆朋;孟令蒲;刘艳萍;赵佰金 | 主分类号 | G01N23/203(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N23/203(2006.01)I | 专利有效期 | 一种小角和广角X射线散射联用装置及其实验测试方法 至一种小角和广角X射线散射联用装置及其实验测试方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种小角和广角X射线散射联用装置及其实验测试方法，该装置采用微焦点X射线光源提供平行的、高亮度的、高品质X射线光。通过三个四刀口狭缝准直光路精确定义光斑形状和滤掉杂散光。联合一维线性探测器和二维多丝气体探测器来分别探测广角和小角X射线散射信号，可以获得从0.1纳米到100纳米尺度横跨三个量级的物质结构。该装置配置不同长度的真空管道和不同大小的直通光阻挡器，样品到检测器的距离可调及在满足测试角度要求的前提下保证高的光通量和散射信号的空间分辨率。本发明具有测试尺度范围大和易于调节等优点，非常适合于原位检测，是研究高分子材料、无机纳米材料、生物医学物质和其它软物质等一种非常好的工具。 |
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