| 专利名称 | 超快光脉冲时间波形的测量装置 | 申请号 | CN201310103586.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103196570A | 公开（授权）日 | 2013.07.10 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 吴正香;董明明;李国扬;范薇 | 主分类号 | G01J11/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J11/00(2006.01)I | 专利有效期 | 超快光脉冲时间波形的测量装置 至超快光脉冲时间波形的测量装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种超快光脉冲时间波形的测量装置，实现了对现有的基于光电转换的传统条纹相机的突破，提供同时具有皮秒量级的时间分辨率、百个皮秒量级的可测时间跨度以及103-105的可测量动态范围。该装置主要包括光波导单元，泵浦光系统和高动态范围的读出系统，其中光波导单元的功能层采用的是Al0.24Ga0.76As/GaAs/Al0.24Ga0.76As/GaAs/Al0.24Ga0.76As结构，两个GaAs芯层组成了MZ干涉仪的两条臂。本发明的最大的优点在于，解决了现有技术难以同时具备大的动态范围、时间分辨率和可测量时间跨度以及真空器件稳定性和可靠性差等技术问题。 |
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