| 专利名称 | 测量固体热物性参数的光学系统 | 申请号 | CN201220617402.2 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN203037569U | 公开（授权）日 | 2013.07.03 | 申请（专利权）人 | 中国科学院工程热物理研究所 | 发明（设计）人 | 邱琳;徐先锋;唐大伟;祝捷;布文峰 | 主分类号 | G01N21/21(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/21(2006.01)I | 专利有效期 | 测量固体热物性参数的光学系统 至测量固体热物性参数的光学系统 | 法律状态 | 授权 | 说明书摘要 | 本实用新型提供了一种测量固体热物性参数的光学系统。该光学系统包括：加热激光产生组件、探测激光产生组件、合束元件、分光元件、加热激光接收组件、样品测试组件和探测激光接收组件。本实用新型采用信号调制的光热反射法，属于频域方法，和超短脉冲激光抽运探测法等时域方法相比，没有机械运动部件，测量系统相对简单、光路调节更方便。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
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