| 专利名称 | 一种反射面天线波束指向的测试装置及其测试方法 | 申请号 | CN201110454082.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103185566A | 公开（授权）日 | 2013.07.03 | 申请（专利权）人 | 中国科学院空间科学与应用研究中心 | 发明（设计）人 | 王宏建;易敏;陈雪;赵鑫;刘广;刘世华;郝齐焱 | 主分类号 | G01C1/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01C1/00(2006.01)I;G01R29/10(2006.01)I | 专利有效期 | 一种反射面天线波束指向的测试装置及其测试方法 至一种反射面天线波束指向的测试装置及其测试方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种反射面天线波束指向的测试装置及其测试方法，所述的反射面天线固定于天线支架上，包括有：电子经纬仪和天线基准镜，其特征在于，该装置还包括有光学望远镜；所述的光学望远镜平行于反射面天线机械轴固定于天线支架上；所述的发射天线旁边放置一靶标；该测试装置，用于通过光学测量方法和天线远场方向图测试相结合，精确测量反射面天线的电轴和机械轴夹角。该方法利用光学望远镜平行于反射面天线机械轴固定于天线支架上，并在所述的发射天线旁边放置一靶标，最终通过光学测量方法和天线远场方向图测试相结合，精确测量反射面天线的电轴和机械轴夹角。本发明可以解决精确测试星载天线电轴机械轴指向问题，具有准确、普适性强等优点。 |
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