| 专利名称 | 专用于掠入射XAFS实验的装置及其调整方法 | 申请号 | CN201310081613.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103175857A | 公开（授权）日 | 2013.06.26 | 申请（专利权）人 | 中国科学院高能物理研究所 | 发明（设计）人 | 谢亚宁;张静;张久昶;宋冬燕 | 主分类号 | G01N23/223(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N23/223(2006.01)I | 专利有效期 | 专用于掠入射XAFS实验的装置及其调整方法 至专用于掠入射XAFS实验的装置及其调整方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 公开了一种专用于掠入射XAFS实验的装置及其调整方法，其中该装置包括：用于产生掠入射XAFS实验所需的X射线的装置；前狭缝，限定X射线的尺寸；第一升降台，使前狭缝在垂直方向上升降；样品架，承载样品；旋转台，使得样品架上的样品转动，以获得所需的X射线掠入射角度；第二升降台，使得旋转台在垂直方向上升降；后狭缝，限定全反射X射线的尺寸；第三升降台，使得所述后狭缝在垂直方向上升降；第一探测器，探测从样品发出的荧光信号；第二探测器，探测全反射X射线信号。采用该装置及方法，能够快速精确地设定样品初始位置，而且能够精确地调整样品角度，并以高信噪比获取样品的实验探测数据，获得高质量的掠入射XAFS实验谱。 |
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