| 专利名称 | 一种超导磁体失超保护方案验证系统及其验证方法 | 申请号 | CN201310054961.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103176080A | 公开（授权）日 | 2013.06.26 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电工研究所 | 发明（设计）人 | 李毅;王秋良;陈顺中;胡新宁 | 主分类号 | G01R31/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R31/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种超导磁体失超保护方案验证系统及其验证方法 至一种超导磁体失超保护方案验证系统及其验证方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种超导磁体失超保护方案验证系统及其验证方法，其验证系统包括验证装置和信号检测系统两部分；所述的信号检测系统与所述的验证装置连接，通过线圈内部温度计（6）、线圈外部温度计（7）、加热器保护检测抽头（8、8’）检测和采集验证装置的超导线圈（2）的电压和温度信号，通过测量引线（9）送至数据采集设备（10）处理；所述的验证装置模拟需被验证的超导磁体的电磁特性，具有和需被验证的超导磁体相似的几何结构，以及相同的失超保护方案。通过触发贴附在超导线圈（2）上的触发加热条（4），触发每一个超导线圈使其作为最先失超的线圈而失超，验证任何一个超导线圈先失超时失超保护方案的可行性。 |
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