| 专利名称 | 一种测量平面型薄膜热电器件开路电压的系统 | 申请号 | CN201220741003.7 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN203011995U | 公开（授权）日 | 2013.06.19 | 申请（专利权）人 | 国家纳米科学中心 | 发明（设计）人 | 王汉夫;官爱强;李振伟;褚卫国;郭延军;李晓军;金灏;祖敏;刘秀 | 主分类号 | G01R19/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R19/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种测量平面型薄膜热电器件开路电压的系统 至一种测量平面型薄膜热电器件开路电压的系统 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型公开了一种测量平面型薄膜热电器件开路电压的系统，该系统包括样品测试架（8），电压测量装置以及温度控制装置；所述平面型薄膜热电器件（19）固定于所述样品测试架（8）上；所述电压测量装置与所述平面型薄膜热电器件（19）连接，用于测量所述平面型薄膜热电器件（19）的开路电压；所述温度控制装置与所述平面型薄膜热电器件（19）连接，用于控制所述平面型薄膜热电器件的热端处于第一预设温度和所述平面型薄膜热电器件的冷端处于第二预设温度。本实用新型能够测量平面型薄膜热电器件的开路电压，尤其是可以在大气环境下测量平面型薄膜热电器件的开路电压随平面型薄膜热电器件两端温差的变化。 |
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