| 专利名称 | 一种形状记忆合金瞬态阻尼的测试方法 | 申请号 | CN201110426286.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103163172A | 公开（授权）日 | 2013.06.19 | 申请（专利权）人 | 中国科学院金属研究所 | 发明（设计）人 | 姜海昌;曾建敏;戎利建;刘树伟;胡小锋;赵明久;闫德胜 | 主分类号 | G01N25/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N25/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种形状记忆合金瞬态阻尼的测试方法 至一种形状记忆合金瞬态阻尼的测试方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种形状记忆合金瞬态阻尼的测试方法：使用动态力学分析仪将被测的形状记忆合金试样升温至其相变温度范围内，并取不同的应变振幅范围进行测试合金阻尼值tanδ与应变振幅的关系曲线，然后取出各曲线起始阶段的数据继续连线，所得的结果即为合金阻尼（IFint+IFPT+IFTr）与应变振幅的关系；在进行上述操作的基础上，再减去恒温一定时间得到的（IFint+IFPT）与应变振幅的对应关系，即可反映出瞬态阻尼IFTr随应变振幅的变化规律。本发明简明、直观地反映出阻尼合金的瞬态阻尼与应变振幅的对应关系,测试方法简单明了，易于实施，测试结果准确，直观地反映出相变过程中合金阻尼值的瞬态项与应变振幅的对应关系。 |
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