专利名称 | 提高聚四氟乙烯薄膜亲水性的原子层沉积方法 | 申请号 | CN201110421739.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开(公告)号 | CN103160807A | 公开(授权)日 | 2013.06.19 | 申请(专利权)人 | 中国科学院微电子研究所 | 发明(设计)人 | 万军;赵柯杰;黄成强;饶志鹏;陈波;李超波;夏洋;吕树玲;石莎莉 | 主分类号 | C23C16/44(2006.01)I | IPC主分类号 | C23C16/44(2006.01)I | 专利有效期 | 提高聚四氟乙烯薄膜亲水性的原子层沉积方法 至提高聚四氟乙烯薄膜亲水性的原子层沉积方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 公开了一种提高聚四氟乙烯薄膜亲水性的原子层沉积方法,包括:将聚四氟乙烯薄膜放置于原子层沉积设备反应腔中;向所述原子层沉积设备反应腔中通入四氯化碳,使得所述四氯化碳中的碳原子吸附在所述聚四氟乙烯薄膜表面;向所述原子层沉积设备反应腔中通入含羟基基团的物质,所述聚四氟乙烯薄膜表面即生成高含量羟基基团的薄膜结构;逐层生长表面有高含量羟基基团的聚四氟乙烯薄膜。本发明提供的一种提高聚四氟乙烯薄膜亲水性的原子层沉积方法,使用原子层沉积设备,利用原子层可精确控制沉积薄膜厚度的优点,在PTFE薄膜表面沉积0.5-3纳米厚度的亲水性羟基基团薄膜,可以显著提高PTFE薄膜的亲水性能和时效性能,该方法操作简单,成本低,改性效果显著。 |
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